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日本工業標準調査会標準部会基本技術専門委員会(第16回)(書面審議)‐議事要旨

回答期限:平成20年4月10日(木曜日)(平成20年 3月31日(月曜日)資料発送)
議決日:平成20年4月11日(金曜日)

議題

基本技術分野における2008年版国際標準化アクションプラン(案)の審議

送付資料

資料1 基本技術専門委員会名簿
資料2 基本技術分野における2008年版国際標準化アクションプラン(案)
参考資料 「2008年版国際標準化アクションプラン(案)」を作成するために「2007年版国際標準化アクションプラン」の修正箇所を表示した資料

回答者

今井秀孝委員長、吉良雅治委員、近藤良太郎委員、八田勲委員、田森行男委員
(臨時委員総数11名中計5名)

回答結果

基本技術分野における2008年版国際標準化アクションプラン(案)の審議
(無回答については、賛成とする旨審議書類送付時に通知済。)

回答数:5
賛成:3
コメント付き賛成:2
反対:0
留保:0
無回答:6

議事内容

「基本技術分野における2008年版国際標準化アクションプラン(案)」の審議については、次の修正・追記をすることとして了承された。

(1)1ページ「(3)TC37(用語)において、・・・・重要となる。」の文章の次に「2007年12月にVIM(国際計量用語集)第3版がISO/IEC Guide99として発行されたので、TC12及びTC69とも連携をとりつつ用語の整合化を図る必要がある。」を挿入する。また、同ページの下段に「2VIM:International Vocabulary of Metrology-Basic and general concepts and associated terms」の注記を追加する。

(2)4、5、6ページに記載される「粒度分布」を「粒子径分布」に訂正する。

(3)6ページ「I. ISO/TC24(粉体)」に記載される「・・・・・再編が、近々行われる事となっている。」を「・・・・再編が近々行われ、粒子のキャラクタリゼーションへの展開を図ろうとしている。」に訂正する。

(4)11ページ「I. ISO/TC24(粉体)」に記載される「極微小粒子の測定方法」を「ナノ粒子を含む極微小粒子の測定方法」に訂正する。

(5)12ページ「I. ISO/TC24(粉体)」に記載される「(1) 新規提案予定件数:7件」を「(1)新規提案予定件数:0件」に訂正する。

以上

 
 
最終更新日:2008年4月24日
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