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日米協働調査試行プログラムの申請手続を簡素化します

2022年11月11日

11月8日に開催された特許庁濱野長官及び米国特許商標庁ヴィダル長官のバイ会談において、日米両長官は、日米協働調査試行プログラム(以下「日米協働調査」という。)の申請方法を簡素化するための統一申請書を導入することで合意しました。統一申請書の導入により、いずれか一方の庁のみに申請すれば日米協働調査を利用することが可能となります。

1.背景

日米協働調査は、日米両国に特許出願した発明について、日米の特許審査官がそれぞれ調査を実施し、その調査結果及び見解を共有した後に、それぞれの特許審査官が、早期かつ同時期に最初の審査結果を送付する取組です。
日米協働調査により、審査・権利取得の時期に関する予見性が向上するとともに、特許庁及び米国特許商標庁における最初の審査結果(FA)において判断が一致する可能性が高まり、両庁のFAに対する応答負担が減少する等のメリットが得られます。一方で、日米協働調査の申請には、一方の庁に申請書を提出してから15日以内に他方の庁にも申請する必要があり、ユーザーから申請手続の簡素化の要望が寄せられていました。

2.日米協働調査の申請手続の簡素化について

両庁は11月8日に開催された日米長官会談において、統一申請書を導入することで合意しました。これにより、いずれか一方の庁のみに統一申請書を提出すれば日米協働調査を利用することが可能となります。統一申請書を含む、日米協働調査試行プログラムの詳細については、以下特許庁HPをご覧ください。
日米での権利取得の際には、本プログラムの活用を是非ご検討ください。


(左)米国特許商標庁ヴィダル長官、(右)特許庁濱野長官

関連リンク

担当

特許庁 審査第一部 調整課 審査企画室長 馳平
担当者:西岡

電話:03-3581-1101(内線 3103)
03-3580-5898(直通)
03-3580-8122(FAX)